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繁星TDA工具平台
繁星TDA工具平台
繁星TDA工具平台
FX-TDA
繁星TDA (Thermal Design Automation)工具平台是热设计自动化工具链的载体，它由一系列工具组成，覆盖仿真、评估、优化、建模和转换，借助该工具平台，能帮助用户搭建完整的热设计工具链，可以极低门槛地、高效地、准确地完成热设计任务。
瞬态温度
瞬态温度
功率循环
功率循环
振动疲劳
振动疲劳
Delphi
Delphi
产品详情

瞬态温度工具

用途：用于多热源的瞬态耦合温度计算
输入：各个热源的瞬态损耗曲线、自Zth曲线、互Zth曲线
输出：各个测温点的瞬态温度曲线
特征：多热源耦合、高精度的秒/分级计算时长、时间步计算可小于微秒、同热测试设备高度配合
繁星（实线）：秒级 CAE（虚线）：小时级

功率循环工具

用途：用于功率器件在实际工况下的寿命评估
输入：各个热源的瞬态损耗曲线、自Zth曲线、互Zth曲线、 工作时长、寿命曲线
输出：雨流、累计损害指数、等效PC试验循环数
特征：考虑△T、考虑Tj、考虑Ton、PCsec和PCmin的测试 循环数等效转换

振动疲劳工具

用途：用于电子产品在振动工况下的疲劳寿命评估
输入：应力PSD、应力传递函数+激励、SN曲线
输出：雨流、累计损伤指数、可靠度
特征：随机振动评估、扫频振动评估、随机+扫频振动评估

Delphi工具

用途：用于单芯片器件的Delphi模型自动化建立
输入：不同边界条件下的结温和热流数据表格
输出：拓扑模型、热阻数据
特征：对比其他工具，自动化程度高，且大幅度降低了 Delphi和实际模型的误差
更多产品
More Products
赤霄-瞬态热阻测试仪
赤霄-瞬态热阻测试仪
CXSTD-30A10V4P
该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息，支持测试半导体器件的结壳热阻,结环热阻等。
瞬态热测试技术
瞬态热测试技术
B/S架构,<br/>远程控制
B/S架构,
远程控制
温度(T<sub>j</sub>)<br/>分辨率0.01℃
温度(Tj)
分辨率0.01℃
1MHz连续变频采样
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赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
CXMINI-10A5V1P
该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息，支持测试半导体器件的结壳热阻、结环热阻等。
便于携带
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性价比
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全球领先的<br/>瞬态热测试技术
全球领先的
瞬态热测试技术
低功率器件<br/>瞬态热测试
低功率器件
瞬态热测试
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赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
CXAI-10A5V4C4P
该设备配备多路隔离电流源，可针对CPU、GPU等计算类多热源芯片进行实施不同功率下的同步瞬态热测试，可模拟多核芯片在不同工况下的热阻分析与热耦合影响的确认。
智能化
智能化
定制化服务
定制化服务
多热源进行<br>瞬态热测试
多热源进行
瞬态热测试
超高性价比
超高性价比
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赤霄-功率循环及瞬态热阻测试系统
赤霄-功率循环及瞬态热阻测试系统
CXPC-2000A10V4C16P
该设备在试验过程中实时获得功率器件循环次数、电压与结温的变化,以及器件内外不同结构层的热阻老化进度、老化原因等诊断结果的精准数据,是业内少有的将功率循环测试、瞬态热测试和结构功能分析相结合的试验机。
定制化服务
定制化服务
通道独立运行
通道独立运行
全球领先的<br>集成热测试技术
全球领先的
集成热测试技术
老化过程监控
老化过程监控
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青虹-功率循环及瞬态热阻测试系统
青虹-功率循环及瞬态热阻测试系统
QHPC-3000A10V3C12P
设备专为大功率半导体，尤其是车规级IGBT、SiC-MOSFET等器件的功率循环测试设计，符合AQG324标准，可进行PC<sub>sec</sub>、PC<sub>min</sub>功率循环， 按照电流不变、T<sub>j-max</sub>不变、ΔT<sub>j</sub>不变、功率不变、ΔT<sub>c</sub>不变等策略进行功率循环实验。 实验过程中可以监控热学(T<sub>j</sub>、ΔT<sub>j</sub>等)、电学(V<sub>on</sub>、P等)参数，同时可设置停止条件，保证实验的安全进行。
集成度高
集成度高
智能化
智能化
测试台架定制化
测试台架定制化
测试通道独立
测试通道独立
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赤霄-TIM测试仪
赤霄-TIM测试仪
CXTIM-10A5V
该设备是遵循ASTM D5470测试标准的稳态热导率测试设备,具有厚度和压力两种模式,可针对不同特性的导热材料进行热导率测试以及界面接触热阻的评价。
满足稳态热导率测试法<br/>ASTM D5470标准
满足稳态热导率测试法
ASTM D5470标准
准确性高
准确性高
导热材料<br/>散热性能解析
导热材料
散热性能解析
界面接触热阻分析
界面接触热阻分析
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赤霄-质检设备
赤霄-质检设备
CXQT
该设备利用赤霄瞬态热测试技术实现产线上的快速无损全检。可实现器件模组乃至产品级别的多层次同时检测及判定。可利用产线上回收积累的检测数据,优化判定算法,提高检出率,进一步降低不良品的流出风险。
质量问题定位
质量问题定位
在线检测建立标准
在线检测建立标准
优化判定算法
优化判定算法
设计问题反馈
设计问题反馈
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赤霄-光电热联合测试仪
赤霄-光电热联合测试仪
CXOPT-40A20V1C2P
该设备是一款用于测试LED半导体器件的电学特性、瞬态热阻特性以及相关光学特性的综合测试仪器,实现在同一平台完成器件的光电热全自动化测试。
光电热联合一体
光电热联合一体
瞬态监测
瞬态监测
实现光电热
实现光电热
赤霄瞬态
赤霄瞬态
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赤霄-温控装置(风冷)
赤霄-温控装置(风冷)
CXTC-A50
该设备是鲁欧智造自主研发的一款基于半导体热电效应的温控设备,主要用于快速温度系数的标定,具有控温精度高、控温稳定、升降温速度快、覆盖常用温度范围,体积小,重量轻,操作简便,无液体泄漏风险的特点,需与赤霄热阻测试设备配套使用。
快速K系数标定
快速K系数标定
控温精度高
控温精度高
升降温速度块
升降温速度块
全过程记录
全过程记录
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赤霄-激光芯片老化测试设备
赤霄-激光芯片老化测试设备
CXAG-30A32V16C256L
该设备作为全球首台光电热一体检测设备，专为激光半导体老化测试设计，符合JESD 51-1、JESD 51-14、JESD 51-5X标准,可对激光芯片进行热阻测试、老化测试、光功率监控输出结构函数。
光电热一体化测试
光电热一体化测试
程控老化策略
程控老化策略
多通道同步检查
多通道同步检查
热结构分析
热结构分析
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FASIM全新一代多物理场仿真平台
FASIM全新一代多物理场仿真平台
FASIM
FASIM由拥有数十年CAE开发经验的团队倾力打造，是全新一代的国产多物理场仿真平台，专注于为电子热管理领域提供高效的、专业的工程仿真工具。FASIM仿真平台包含流体散热、PCB PI、电磁、结构和光学五大模块，可广泛应用于汽车电子、消费电子、通信设备、新能源和航空航天等行业。
流体散热
流体散热
PCB PI
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低频电磁
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繁星TDA工具平台
繁星TDA工具平台
FX-TDA
繁星TDA (Thermal Design Automation)工具平台是热设计自动化工具链的载体，它由一系列工具组成，覆盖仿真、评估、优化、建模和转换，借助该工具平台，能帮助用户搭建完整的热设计工具链，可以极低门槛地、高效地、准确地完成热设计任务。
瞬态温度
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功率循环
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振动疲劳
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Delphi
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热测试｜热分析｜热数字孪生技术
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