赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
CXAI-10A5V4C4P
该设备配备多路隔离电流源,可针对CPU、GPU等计算类多热源芯片进行实施不同功率下的同步瞬态热测试,可模拟多核芯片在不同工况下的热阻分析与热耦合影响的确认。
智能化
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定制化服务
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多热源进行<br>瞬态热测试
多热源进行
瞬态热测试
超高性价比
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行业领先的针对多热源计算类芯片的热测试设备

多热源动态测试能力

同步激励:
通过独立控制的4-8路隔离电流源,可对芯片内不同计算单元(如CPU大核/小核、GPU运算单元)施加差异化功率负载,精确模拟。
热耦合分析:
实时监测各单元间的热耦合效应,量化热流路径交叉影响(如共享散热基板导致的温度抬升)。

瞬态热测试技术

热网络模型的构建:
在传统单点热阻测试基础上,扩展为多维热阻网络分析,帮助生成高精度的瞬态热网络模型。

主要功能与参数

型号 CXAI-10A5V4C4P/ CXAI-30A10V4C4P
测试项目 1. 瞬态热阻测试 (四通道,每个通道可以完全独立控制,适用于多热源芯片测试)
2. 温度系数自动标定(需要另外搭配控温系统)
测试模式 DIODE模式   IGBT模式   RDS-ON模式   HEMT模式
对应器件 DIODE、Si/SiC MOSFET、IGBT/IGCT、GaN、GTO、IC、IPM
标准 符合JESD51-1、JESD51-14 、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、 IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求
加热电源参数 规格型号 10A / 5V 30A / 10V
电流输出误差 ≤0.005A + 0.5%set ≤0.05A + 0.1%set
电流设定分辨率 0.001A 0.1A
关断速度 1μs 1μs
输出方式 隔离输出(可单独控制)
数量 4
测温电流源 输出范围 0.03A〜1A/10V
误差 ≤2mA + 0.5%set
分辨率 0.2mA
输出方式 隔离输出(可单独控制)
数量 4
测量通道 动态电压测量 测量范围 -4.5V~+5V(差分模式)
测量误差 ≤1mV + 0.5%set
动态量程 100mV、200mV、400mV、800mV
动态分辨率 < 2.1μV(@100mV)
采样频率 最高1MHz
采样模式 连续变频采样
数量 4
门控电源参数 输出范围 -10V 〜 20V
输出误差 ≤0.1V + 0.5%set
分辨率 0.01V
输出方式 隔离输出(可单独控制)
数量 4
尺寸 630mm(W)x680mm(D)x1510mm(H)(不含塔灯)
重量 200kg
供电 AC220V/50Hz
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