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老化模式
功率循环
电流不变 Tj-Max ΔTj不变 功率不变 ΔTc不变
持续老化
电流不变 功率不变
产品热结构降级测试
产品封装可靠性测试
不良品筛选
出厂检测
提交
主要功能与参数 |
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| 型号 | CXPC-2000A10V4C16P | |||
| 测试类型 |
1. 功率循环试验 2. 瞬态热阻测试 3. 温度系数自动标定（需要另外搭配控温系统） *备注：每个电流通道独立工作，可独立设定试验条件，通道之间互不干扰，可分别启动、停止任意测试通道 |
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| 测试模式 | IGBT模式 SAT模式 DIODE模式 RDS-ON模式 | |||
| 对应器件 | DIODE、Si/SiC MOSFET、IGBT/IGCT、GaN、GTO、IC、IPM | |||
| 标准 | 符合JESD51-1、JESD51-14 、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、 IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求 | |||
| 老化模式 | 功率循环 （电流不变、Tj-max不变、ΔTj不变、功率不变、ΔTc不变）、 持续老化 （电流不变、功率不变） | |||
| 加热电源参数 | 规格型号 | 500A/10V | ||
| 通道数 | 4CH （可级联） | |||
| 电流输出误差 | ≤1A + 0.1%set | |||
| 电流设定分辨率 | 0.1A | |||
| 最小功率脉冲宽度 | 100ms | |||
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测温电流源 （主） |
±0.1A 〜 ±1A / 10V | |||
| 分辨率 | 0.2mA | |||
| 误差 | ≤2mA + 0.5%set | |||
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测温电流源 （辅） |
1 〜 100mA / 10V | |||
| 分辨率 | 0.01mA | |||
| 误差 | 1 〜 10mA | ≤50μA + 0.5%set | ||
| 10 〜 100mA | ≤0.5mA + 0.5%set | |||
| 测量通道 | 数量 | 16 | ||
| 动态电压测量 | 测量范围 | -4.5V~+5V（差分模式） | ||
| 测量误差 | ≤1mV + 0.5%set | |||
| 动态量程 | 100mV、200mV、400mV、800mV | |||
| 动态分辨率 | < 2.1μV（@100mV） | |||
| 采样频率 | 最高1MHz | |||
| 采样模式 | 连续变频采样 | |||
| 门控电源参数 | 数量 | 16 | ||
| 输出方式 | 隔离输出 | |||
| 输出范围 | -10V 〜 20V | |||
| 输出误差 | ≤0.1V + 0.5%set | |||
| 分辨率 | 0.01V | |||
| NTC/PTC数据同步采集 | NTC测量范围 | 250kΩ 〜 100Ω | ||
| PTC测量范围 | Pt100、Pt1000 | |||
| 通道数 | 4 | |||
| 最高采样频率 | 1MHz | |||
| 同步时间误差 | ≤1μs | |||
| 功率循环中的数据监控 |
电学数据监控 （每个周期采集） |
电流、功率、Von、Von_cold、Vhot、Vcold | ||
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热学数据监控 （每个周期采集） |
Tj、ΔTj、Tc、Tref、Zth | |||
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热结构变化监控 （指定周期间隔） |
设置合理的循环次数，间隔实施瞬态热测试并获得结构函数图谱，通过图谱对样品内部热结构的阶段性变化进行在线监控和分析 | |||
| 器件失效判定 | 可设定多种样品失效判定条件 | 电压判定、电流判定、功率判定 | ||
| Tj判定、ΔTj判定、Zth判定 | ||||
| 失效条件触发后提供报警、暂停老化 | ||||
| 老化数据断点恢复，防止不可预知的上位机故障造成老化数据丢失 | ||||
| 远程监控 | 采用B/S架构控制系统，可远程监控、控制设备运行状况，下载数据分析 | |||
| 尺寸 | 1500mm(W)*670mm(D)*1820mm(H)（不含塔灯） | |||
| 重量 | 430kg | |||
| 供电 | AC380V/50Hz | |||
功率循环测试结果示例 |
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老化模式
功率循环
电流不变 Tj-Max ΔTj不变 功率不变 ΔTc不变
持续老化
电流不变 功率不变
产品热结构降级测试
产品封装可靠性测试
不良品筛选
出厂检测
瞬态热测试---涵盖赤霄热阻测试仪应用场景
功率循环（PCsec/PCmin）
产品热结构降级测试
产品封装可靠性测试
系统散热性能评估
封装材料评估
封装工艺优化
