赤霄G3-瞬态热阻测试仪
赤霄G3-瞬态热阻测试仪
CXST-G3-500A10V4P
通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息,支持测试半导体器件的结壳热阻,结环热阻等。符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,可输出结构函数,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的瞬态热测试、热结构分析。

国际领先的新一代赤霄瞬态热测试技术

测温精度
温度(Tj)分辨率0.001℃,2MHz实时连续变频采样
动态量程
动态电压采集板卡升级采用24bitADC芯片,大幅提升了电压采样分辨率,实现宽量程高精度连续变频采样
设备架构
设备升级为10个通用型板卡卡槽,根据需求自由扩展采样通道或测试电流通道等,最多可同时搭载16个测试通道
系统架构
设备实行完全脚本化控制,可便捷嵌入产品测试流程或产线检测流程,轻松实现全自动化检测
瞬态监测
连续采集加热和冷却区的瞬态变化
NPS技术
同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据,形成数据关系矩阵
外设联动
通过EXA卡直接控制外部设备,将外部设备纳入脚本的可操作范围,适配更多样的复合测试场景

主要功能

型号 CXST-G3-500A10V4P
测试类型 1. 瞬态热阻测试 2. 温度系数自动标定(需要另外搭配控温系统)
测试模式 DIODE模式   SAT模式   IGBT模式   RDS-ON模式   HEMT模式
对应器件 DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC
标准 符合JESD 51-1、JESD 51-14 、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求

主要参数

加热电源参数 规格型号 500A/10V(可定制)
电流输出误差 ≤1A + 0.1%set
电流设定分辨率 0.01A
关断速度 1μs
测温电流源 ±1mA ~±1000mA(@12V)
分辨率 0.01mA(@≤100mA) 0.1mA(@>100mA)
误差 0.05mA+0.5%Set (@1mA~10mA) 1mA+ 0.5%se(t @>100mA)
0.5mA+0.5%Set (@10mA~100mA)
测量通道 数量 4 (Option: Max 16)
动态电压测量 测量范围 ±10V(差分模式)
测量误差 ≤ 1mV+ 0.5%range
动态量程 500mV、1000mV、2000mV、4000mV
动态分辨率 <1μV(@全量程)
采样频率 最高2MHz(@24Bit)
采样模式 连续变频采样(实时变频)
门控电源参数 数量 4 (Option: Max 16)
输出方式 隔离输出
输出范围 -20V~20V
输出误差 ≤0.05V+ 0.5%set
分辦率 0.01V
NTC/PTC数据同步采集 NTC测量范围 250kΩ~100Ω
PTC测量范围 Pt100、Pt1000
最高采样频率 1MHz
同步时间误差 ≤1μs
安装条件 尺寸 590mm*830mm*720mm
重量 130kg
供电 AC380V/50Hz

瞬态热测试---涵盖赤霄热阻测试仪应用场景

产品批量测试

结温VS光功率测量

持续老化测试

脉冲老化测试

实时光功率检测

产品可靠性测试

产品出厂筛选(bathtub curve)

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