首页
>
产品服务
>
赤霄-温控装置(风冷)
赤霄-温控装置(风冷)
赤霄-温控装置(风冷)
CXTC-A50
该设备是鲁欧智造自主研发的一款基于半导体热电效应的温控设备,主要用于快速温度系数的标定,具有控温精度高、控温稳定、升降温速度快、覆盖常用温度范围,体积小,重量轻,操作简便,无液体泄漏风险的特点,需与赤霄热阻测试设备配套使用。
快速K系数标定
快速K系数标定
控温精度高
控温精度高
升降温速度块
升降温速度块
全过程记录
全过程记录
产品详情 技术参数 应用场景

自主设计高精度TEC电子温控装置

无机械振动，超高稳定性
固态制冷：无压缩机、冷媒等运动部件，彻底消除振动干扰，适合精密元器件等对微振动敏感的场景。
快速响应，精准控温
通过电流方向/大小切换，实现高速温度转换。
双向温控，一机多用
制冷/加热一体化：仅需改变电流方向即可切换模式，无需外接加热模块。
紧凑灵活，便于移动
体积小，可与赤霄系列热测试设备通过数据通信。方便不同实验室之间的搬动。

主要功能与参数
型号 CXTC-A50
主要功能 快速温度系数标定
温度范围 5~120℃
分辨率 0.1℃
温度控制精度 ±0.5℃
控温速率 升温时间(25℃到120℃) ≤25min
降温时间(120℃到25℃) ≤15min
降温时间(25℃到5℃) ≤10min
冷板尺寸 165mm×100mm
冷板材质 铜镀镍
样品固定形式 压紧模式
温度传感器 PT1000
通讯接口 RS485
散热方式 风冷+翅片式散热器
控温模式 TEC控温
外形尺寸 300mm(W)×500mm(D)×325mm(H)（含防护罩）
重量 17.6kg
设备供电要求 AC220V/50Hz
更多产品
More Products
赤霄-瞬态热阻测试仪
赤霄-瞬态热阻测试仪
CXSTD-30A10V4P
该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息，支持测试半导体器件的结壳热阻,结环热阻等。
瞬态热测试技术
瞬态热测试技术
B/S架构,<br/>远程控制
B/S架构,
远程控制
温度(T<sub>j</sub>)<br/>分辨率0.01℃
温度(Tj)
分辨率0.01℃
1MHz连续变频采样
1MHz连续变频采样
查看详情
赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
CXMINI-10A5V1P
该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息，支持测试半导体器件的结壳热阻、结环热阻等。
便于携带
便于携带
性价比
性价比
全球领先的<br/>瞬态热测试技术
全球领先的
瞬态热测试技术
低功率器件<br/>瞬态热测试
低功率器件
瞬态热测试
查看详情
赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
赤霄-瞬态热阻测试仪阵列
CXAI-10A5V4C4P
该设备配备多路隔离电流源，可针对CPU、GPU等计算类多热源芯片进行实施不同功率下的同步瞬态热测试，可模拟多核芯片在不同工况下的热阻分析与热耦合影响的确认。
智能化
智能化
定制化服务
定制化服务
多热源进行<br>瞬态热测试
多热源进行
瞬态热测试
超高性价比
超高性价比
查看详情
赤霄-功率循环及瞬态热阻测试系统
赤霄-功率循环及瞬态热阻测试系统
CXPC-2000A10V4C16P
该设备在试验过程中实时获得功率器件循环次数、电压与结温的变化,以及器件内外不同结构层的热阻老化进度、老化原因等诊断结果的精准数据,是业内少有的将功率循环测试、瞬态热测试和结构功能分析相结合的试验机。
定制化服务
定制化服务
通道独立运行
通道独立运行
全球领先的<br>集成热测试技术
全球领先的
集成热测试技术
老化过程监控
老化过程监控
查看详情
青虹-功率循环及瞬态热阻测试系统
青虹-功率循环及瞬态热阻测试系统
QHPC-3000A10V3C12P
设备专为大功率半导体，尤其是车规级IGBT、SiC-MOSFET等器件的功率循环测试设计，符合AQG324标准，可进行PC<sub>sec</sub>、PC<sub>min</sub>功率循环， 按照电流不变、T<sub>j-max</sub>不变、ΔT<sub>j</sub>不变、功率不变、ΔT<sub>c</sub>不变等策略进行功率循环实验。 实验过程中可以监控热学(T<sub>j</sub>、ΔT<sub>j</sub>等)、电学(V<sub>on</sub>、P等)参数，同时可设置停止条件，保证实验的安全进行。
集成度高
集成度高
智能化
智能化
测试台架定制化
测试台架定制化
测试通道独立
测试通道独立
查看详情
赤霄-TIM测试仪
赤霄-TIM测试仪
CXTIM-10A5V
该设备是遵循ASTM D5470测试标准的稳态热导率测试设备,具有厚度和压力两种模式,可针对不同特性的导热材料进行热导率测试以及界面接触热阻的评价。
满足稳态热导率测试法<br/>ASTM D5470标准
满足稳态热导率测试法
ASTM D5470标准
准确性高
准确性高
导热材料<br/>散热性能解析
导热材料
散热性能解析
界面接触热阻分析
界面接触热阻分析
查看详情
赤霄-质检设备
赤霄-质检设备
CXQT
该设备利用赤霄瞬态热测试技术实现产线上的快速无损全检。可实现器件模组乃至产品级别的多层次同时检测及判定。可利用产线上回收积累的检测数据,优化判定算法,提高检出率,进一步降低不良品的流出风险。
质量问题定位
质量问题定位
在线检测建立标准
在线检测建立标准
优化判定算法
优化判定算法
设计问题反馈
设计问题反馈
查看详情
赤霄-光电热联合测试仪
赤霄-光电热联合测试仪
CXOPT-40A20V1C2P
该设备是一款用于测试LED半导体器件的电学特性、瞬态热阻特性以及相关光学特性的综合测试仪器,实现在同一平台完成器件的光电热全自动化测试。
光电热联合一体
光电热联合一体
瞬态监测
瞬态监测
实现光电热
实现光电热
赤霄瞬态
赤霄瞬态
查看详情
赤霄-温控装置(风冷)
赤霄-温控装置(风冷)
CXTC-A50
该设备是鲁欧智造自主研发的一款基于半导体热电效应的温控设备,主要用于快速温度系数的标定,具有控温精度高、控温稳定、升降温速度快、覆盖常用温度范围,体积小,重量轻,操作简便,无液体泄漏风险的特点,需与赤霄热阻测试设备配套使用。
快速K系数标定
快速K系数标定
控温精度高
控温精度高
升降温速度块
升降温速度块
全过程记录
全过程记录
查看详情
赤霄-激光芯片老化测试设备
赤霄-激光芯片老化测试设备
CXAG-30A32V16C256L
该设备作为全球首台光电热一体检测设备，专为激光半导体老化测试设计，符合JESD 51-1、JESD 51-14、JESD 51-5X标准,可对激光芯片进行热阻测试、老化测试、光功率监控输出结构函数。
光电热一体化测试
光电热一体化测试
程控老化策略
程控老化策略
多通道同步检查
多通道同步检查
热结构分析
热结构分析
查看详情
FASIM全新一代多物理场仿真平台
FASIM全新一代多物理场仿真平台
FASIM
FASIM由拥有数十年CAE开发经验的团队倾力打造，是全新一代的国产多物理场仿真平台，专注于为电子热管理领域提供高效的、专业的工程仿真工具。FASIM仿真平台包含流体散热、PCB PI、电磁、结构和光学五大模块，可广泛应用于汽车电子、消费电子、通信设备、新能源和航空航天等行业。
流体散热
流体散热
PCB PI
PCB PI
低频电磁
低频电磁
查看详情
繁星TDA工具平台
繁星TDA工具平台
FX-TDA
繁星TDA (Thermal Design Automation)工具平台是热设计自动化工具链的载体，它由一系列工具组成，覆盖仿真、评估、优化、建模和转换，借助该工具平台，能帮助用户搭建完整的热设计工具链，可以极低门槛地、高效地、准确地完成热设计任务。
瞬态温度
瞬态温度
功率循环
功率循环
振动疲劳
振动疲劳
Delphi
Delphi
查看详情
热测试｜热分析｜热数字孪生技术
解决方案供应商
如果您有任何需求，请随时联系我们！
咨询电话：
0536-2081288
19953669168
合作单位
中国科学院半导体研究所
潍坊先进光电芯片研究院
深创投
中科创星
中关村发展集团启航投资
源禾资本
长兴基金
联系我们
鲁欧智造(山东)数字科技有限公司
鲁欧智造(山东)高端装备科技有限公司
鲁欧智造(上海)装备科技有限公司
西安鲁欧智造装备科技有限公司
鲁欧智造(北京)科技有限公司
鲁欧智造(深圳)数字科技有限公司
Copyright@2025鲁欧智造 (山东)数字科技有限公司
鲁ICP备2020035379号 法律声明｜ 隐私保护
Back to top ↑