赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
赤霄-瞬态热阻测试仪(MINI版)
CXMINI-10A5V1P
该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据,获得不同封装器件内部散热路径上的高精度的热阻及热容信息,支持测试半导体器件的结壳热阻、结环热阻等。
便于携带
便于携带
性价比
性价比
全球领先的<br/>瞬态热测试技术
全球领先的
瞬态热测试技术
低功率器件<br/>瞬态热测试
低功率器件
瞬态热测试

行业领先的第三代瞬态热测试技术

超高精度:
温度(Tj)分辨率0.01℃,1MHz变频采样;
技术领先:
赤霄瞬态热测试技术,可输出结构函数进行热结构分析;
行业领先:
具备1路高速高精度采集模块,采样速度、精度均达到行业先进水平;
架构领先:
采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制,实现智能化;
瞬态监测:
连续采集加热和冷却区的瞬态变化;
00:00 / 00:00

主要功能与参数

型号 CXMINI-10A5V1P
测试类型 1. 瞬态热阻测试
2. 温度系数自动标定(需要另外搭配控温系统)
测试模式 DIODE模式   IGBT模式   RDS-ON模式   HEMT模式
对应器件 DIODE、Si/SiC MOSFET、IGBT/IGCT、GaN、GTO、IC、IPM
标准 符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG324等相关标准要求
加热电源参数 规格型号 10A / 5V
电流输出误差 ≤0.005A + 0.5%set
电流设定分辨率 0.001A
关断速度 1μs
测温电流源 1 〜 100mA / 5V
分辨率 0.01mA
误差 1 〜 10mA ≤50μA + 0.5%set
10 〜 100mA ≤0.5mA + 0.5%set
测量通道 数量 1
动态电压测量 测量范围 -4.5V~+5V(差分模式)
测量误差 ≤1mV + 0.5%set
动态量程 100mV、200mV、400mV、800mV
动态分辨率 < 2.1μV(@100mV)
采样频率 最高1MHz
采样模式 连续变频采样
门控电源参数 数量 1
输出方式 隔离输出
输出范围 -10V ~ 20V
输出误差 ≤0.1V + 0.5%set
分辨率 0.01V
尺寸 234mm(W)*350mm(D)*189mm(H)
重量 5.6kg
供电 AC220V/50Hz

器件结壳热阻测量

散热结构分析

Die-Attach热阻测量

DBC/AMB基本热特性测量

界面热阻测量与分析

PCB板级散热结构分析

散热器性能测量

TIM材料热导率测试

热缺陷检测

高精度热仿真

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