赤霄-激光芯片老化测试设备
赤霄-激光芯片老化测试设备
CXAG-30A32V16C256L
该设备作为全球首台光电热一体检测设备,专为激光半导体老化测试设计,符合JESD 51-1、JESD 51-14、JESD 51-5X标准,可对激光芯片进行热阻测试、老化测试、光功率监控输出结构函数。
光电热一体化测试
光电热一体化测试
程控老化策略
程控老化策略
多通道同步检查
多通道同步检查
热结构分析
热结构分析

全球首台光电热一体激光芯片老化试验设备

光电热一体化测试
集成光、电、热测试,提高测试精度和效率,缩短测试流程
测试预检
实验参数动态检测,提高实验的一致性,保证实验数据的准确性
多通道同步检测
一对一的参数检测,避免巡检的低效和误差
程控老化策略
灵活精确的老化载荷输出,保证实验的有效性
热结构分析
结构函数动态监测退化过程,分析质量短板,指导研发设计

主要功能与参数

型号 CXAG-30A32V16C256L
老化模式 持续老化、脉冲老化(功率循环)
老化策略 恒定电流
加热电源 30A/32V × 16通道(可定制)
DUT封装类型 COS(可根据样品形态定制夹具)
老化箱(老化通道) 数量 16
每个老化箱中最大放入16枚待测样品。所有样品独立控制,任意样品出现短路、断路的情况都不影响其他样品的老化进程。
系统在老化开始前对所有样品进行热测试,检查样品放置状态是否存在不良热接触,从而减少不良热接触对老化结果的影响。
光学数据监控(实时采集) 采集通道 256
采集方式 独立采集
采集数据 发光功率(Popt)
电学数据监控(每个周期采集) 采集通道 256
采集方式 老化箱内轮巡采集,老化箱之间独立采集
采集数据 老化电压(Vf)、老化电流、老化功率
热学数据监控(每个周期采集) 采集通道 256
采集方式 老化箱内轮巡采集,老化箱之间独立采集
采集数据 Tj、ΔTj、Tc、Tref(用户自定义)、Zth
热结构变化监控(指定周期间隔) 指定周期间隔实施瞬态热测试从而获得结构函数图谱,通过图谱对样品内部热结构的阶段性变化进行在线监控,可以得到不同材料层、工艺层的热阻变化曲线,定量分析不同材料与工艺的老化速度。
器件失效判定 可设定多种样品失效判定条件 电学 电压判定、功率判定
热学 Tj判定、ΔTj判定、Zth判定
光学 ΔPopt判定
失效触发后可选择暂停老化,或者自动隔离开失效样品后继续老化
老化数据断点恢复,防止不可预知的上位机故障造成老化数据丢失
远程监控 采用B/S架构控制系统、可整合到用户自有设备管理网络系统中
可使用任意终端的浏览器通过网络访问设备,进行状态监控和设备控制
通过远程监控设备,能随时查看当前的测试setup 情况,测试电流,测试时长,实时状态(导通压降,热阻,光功率等)以及其他测试相关参数(如冷却液流量,冷却液温度)信息
可远程查看样品故障信息(失效,短路,断路等)
远程监控中无任何渠道查看和收集任何客户信息

瞬态热测试---涵盖赤霄热阻测试仪应用场景

产品批量测试

结温VS光功率测量

持续老化测试

脉冲老化测试

实时光功率检测

产品可靠性测试

产品出厂筛选(bathtub curve)

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