通过测试实时获得功率器件循环次数、电压与结温的变化，以及器件内外不同结构层的热阻老化进度、老化原因等诊断结果的精准数据。 是业内少有的将功率循环测试、瞬态热测试和结构功能分析相结合的试验机。

设备专为大功率半导体，尤其是车规级IGBT、SiC-MOSFET等器件的功率循环测试设计，符合AQG324标准，可进行PC_sec、PC_min功率循环， 按照电流不变、T_j-max不变、ΔT_j不变、功率不变、ΔT_c不变等策略进行功率循环实验。 实验过程中可以监控热学(T_j、ΔT_j等)、电学(V_on、P等)参数，同时可设置停止条件，保证实验的安全进行。