2025年9月24日至26日，亚洲领先的电力电子盛会——上海国际电力元件、可再生能源管理展览会（PCIM Asia 2025）在上海新国际博览中心圆满落幕。鲁欧智造作为电子热管理领域共性技术提供方，携赤霄系列、青虹系列产品及全新一代仿真软件——FASIM重磅亮相。

展会盛况：技术交流的顶级平台

作为全球电力电子顶尖展会PCIM Europe的姐妹展，PCIM Asia 2025汇聚了来自全球各地的行业精英和企业代表。展会涵盖组件、驱动控制、散热管理及终端智能系统全产业链，同时举办了多场高质量的国际研讨会和行业论坛，包括宽禁带半导体论坛、高功率器件论坛、电动汽车论坛等专题会议，为行业人士提供了一个深度交流和学习的平台。

鲁欧智造展台：专业交流与技术展示完美融合

在本次展会中，鲁欧智造位于N5馆E82号的展台吸引了大量专业观众驻足交流。鲁欧智造携带赤霄-TIM测试仪、赤霄-瞬态热阻测试仪MINI版、青虹-功率循环及瞬态热测试系统亮相本次展会，现场演示器件的测试方式，迎来诸多关注。

展会期间，鲁欧智造的技术专家团队与来自半导体、电力电子、新能源汽车、清洁能源等领域的客户和合作伙伴进行了深入交流，共同探讨电子热管理技术的最新发展和应用挑战。

赤霄系列产品：创新技术引关注

赤霄-瞬态热阻测试仪（CXSTD)凭借其高精度测试能力吸引了众多关注。该设备通过采集半导体器件热平衡后冷却阶段的结电压随时间变化的数据，能够获得不同封装器件内部散热路径上的热阻及热容信息，支持测试结壳热阻、结环热阻等关键参数。

青虹-功率循环及瞬态热测试系统(CXPC)作为业内少有的将功率循环测试、瞬态热测试相结合的试验机，展示了其在实际应用中的卓越性能，能够实时监测功率器件循环次数、电压与结温的变化，为器件可靠性评估提供精准数据支持。

赤霄-光电热联合测试仪(CXOPT)和赤霄-激光芯片老化测试设备(CXAG)实现了在同一平台完成器件的光、电、热全自动化测试，为LED和激光半导体行业提供了全面的测试解决方案。

赤霄-瞬态热阻测试仪阵列(CXAI)配备多路隔离电流源，可针对CPU、GPU等计算类多热源芯片进行实施不同功率下的同步瞬态热测试，可模拟多核芯片在不同工况下的热阻分析与热耦合影响的确认。实时监测各单元间的热耦合效应,量化热流路径交叉影响(如共享散热基板导致的温度抬升)。

赤霄-TIM测试仪(CXTIM)遵循ASTM D5470测试标准，能够针对不同特性的导热材料进行热导率测试以及界面接触热阻的评价，吸引了材料领域专业人士的高度关注。

技术引领未来：鲁欧智造持续创新

通过此次展会，鲁欧智造不仅向业界展示了在电子热管理领域的技术实力，更深入了解了市场需求和技术发展趋势。公司将继续坚持技术创新，不断打磨TDA工具生态链，为客户提供更优质的热管理解决方案，助力行业的发展。

鲁欧智造感谢所有莅临展位的嘉宾和合作伙伴，期待与业界同仁继续携手合作，共同推动电子热管理技术的进步与应用。