A：K系数在瞬态热测试过程中担当了重要的桥梁角色，K系数的准确性直接影响热测试的结果。

首先，我们了解一下如何获取K系数

目前常用的K系数标定过程有升温过程标定K系数和降温过程标定K系数，这两种方法鲁欧配套的温控设备均可实现。那先了解一下升温过程，将被测器件放到20℃的温控设备中（图1），通过实时监测器件结电压的变化，来判断结温是否达到稳态，当结温达到稳态之后，我们采集此时的结电压值，在电压与温度坐标系中描出这个点，紧接着将恒温装置的温度提高到40℃，等结温再次到达稳态之后，再采集此温度下的电压值，在电压温度坐标系中描出第二个点，以此类推，重复上述操作，分别获得结温在60℃和80℃时的结电压值，最后，将得到的数据点进行拟合得到一条数据曲线，这条数据曲线就是K系数（图2)

这是升温获取K系数的过程。而降温过程与升温过程最大的区别就是温度变化的方向是相反的，我们依次获取80/60/40/20℃下的结电压，将得到的数据点进行拟合得到一条数据曲线，这是降温获取K系数的过程。

鉴于电压法热测试的工作原理，采集的是器件冷却阶段的电压，所以，在获取K系数的过程中，我们更加推荐使用降温过程进行K系数的获取。

其次，测试过程中有一个重要的参数设置就是，测试电流，即感温电流。 那感温电流Is又是如何选择的呢？该部分内容详见XX。

我们回想一下刚才K系数获取的过程，我们将器件置于温控装置中，将温控装置设定为某一温度值，那这个温度值是指哪个地方的温度呢？目前的市面上的温控设备常见的温度的测量点，常见的有：

冷板内放置的热电偶的温度；

放置在温控装置出水口处的温度。

其实在整个K系数标定过程中，我们都是使用此测量点的温度来代表结温，这一点很重要。 在测温过程中，PN结本身无自发热，是通过器件的壳温来加热结温，相对于器件来说，结和壳之间存在温度梯度。

同时，设定温度与周围环境的温差越大，热损越严重，测量的误差也越大，为减少结壳之间温度梯度，获取准确的结温测量结果，我们需要做好器件与冷板的保温。 除此之外，需要强调的一点是除了要做好器件与冷板保温措施外，还应该注意温控设备介质传输管路的保温，以便获取高精度的测量结果。

那保温措施做好了，又该如何采样呢？对测温采样间隔进行了研究，通过对多组-线性拟合线性度能够达到0.9999以上的-线性TSP器件K系数进行分析，分别对比相同测温区间内，采样间隔5/10/20摄氏度的温度系数，其结果相差<1%。

非线性TSP器件，通过对多组-线性拟合线性度不能够达到0.9999以上的-非线性TSP器件K系数采用二次拟合方式。

我们可以发现，虽然采样间隔不同，但是在指定结电压值的情况下，两次拟合出来的结果分别是81.963和82.019℃计算的温度相差在0.1℃以内，对其结果影响不大。

基于以上结果，对于线性TSP的器件，适当的增大采样间隔，对其测试结果影响不大。

接下来，我们对标定范围对K系数的影响进行研究 如图所示，是三组不同标定范围的K系数曲线，标定范围分别是[25-165℃]、[25-105℃]、[65-165℃]，可以观察到，整体上高度重合。 不同K系数的标定范围，其温度系数相差<1%

对于具有非线性TSP的器件，分别对标定区间[0-150℃]， [0-90℃]、[60-150℃]进行数据对比

根据拟合后的结果，计算电压分别在1.25V/1.045V/0.9V情况下的温度， 经过对比，在电压1.25V的情况，选用不同的标定范围，[0-150]的标定区间，温度为1.508℃，而[60-150]标定区间，该电压对应下的温度为标定区间的外部，属于计算插值出来的数据，温度为12.804℃，其结温相差最大可达11摄氏度； 在电压0.9V的情况下，选用不同的标定范围，[0-150]的标定区间，温度为145.962℃，而[0-90]标定区间，该电压对应下的温度也为标定区间的外部，属于计算插值出来的数据， 结温相差可达5摄氏度； 通过以上数据对比，选用不同的标定范围，对于结温的计算会产生较大的误差，为更好的进行标定，选择合理的K系数标定范围，可根据实际情况，建议标定范围涵盖测试结温应用范围。

K系数的标定过程受到很多参数的影响，希望以上资料对大家有所帮助。